グローバルナビゲーションへ

本文へ

ローカルナビゲーションへ

フッターへ



ホーム  > リサーチコアセンター  > リサーチコアセンターの紹介  > 組織解析ユニット  > 公開設備(機器)の詳細
組織解析ユニット (8号館南 3F-2/2)

公開設備(機器)の詳細
組織解析ユニット (8号館南 3F-2/2)

※学外・企業による産業利用の場合は管理者までお問い合わせください。
※2017年9月現在の情報です。
※リサーチコアセンター申請手続きが必要です。


クリオスタット CM1900

カテゴリー型名メーカー
クリオスタットCM1900Leica
概要・性能
凍結切片作製
仕様
•凍結チャンバー温度:0-30℃
•切片厚:1-60μm 
•自動霜取付

利用対象者・利用料金学内
利用の可否※
利用者による測定:500円/時間
基本料金

透過電子顕微鏡(付CCD カメラ)H-7100/XR41

カテゴリー型名メーカー
透過電子顕微鏡H-7100/XR41Hitachi
概要・性能
加速電圧主に80kVの透過電子顕微鏡で、付属のATM社の2048×2048画素CCDカメラXR-41により、高コントラスト高精細なデジタル画像を取得できる。
仕様
•加速電圧: 25-125kV, 倍率:50-1000倍(Low magモード)、1000-600,000倍(Magモード), 分解能:0.2nm
•1995年製造

利用対象者・利用料金学内
利用の可否※
利用者による測定:1,000円/時間
基本料金

透過電子顕微鏡(付CCD カメラ)H-7100/XR81

カテゴリー型名メーカー
透過電子顕微鏡H-7100/XR81Hitachi
概要・性能
加速電圧主に80kVの透過電子顕微鏡で、付属のATM社の4096×4096画素CCDカメラXR-81により、高コントラスト高精細なデジタル画像を取得できる。フィルムによる撮影も可能。
仕様
•加速電圧: 25-125kV, 倍率:50-1000倍(Low magモード)、1000-600,000倍(Magモード), 分解能:0.2nm
•1995年製造

利用対象者・利用料金学内
利用の可否※
利用者による測定:1,300円/時間
基本料金

透過電子顕微鏡 JEM-1010

カテゴリー型名メーカー
透過電子顕微鏡JEM-1010JEOL
概要・性能
加速電圧40-100kVの透過電子顕微鏡で、TEM画像を明るく高コントラストで撮影できる。フィルムのみで撮影が可能。
仕様
•加速電圧:40-100kV, 倍率:50-600,000倍, 分解能:0.2nm
•1997年製造

利用対象者・利用料金学内
利用の可否※
利用者による測定:1,000円/時間
基本料金

走査電子顕微鏡(付EDS)

カテゴリー型名メーカー
走査電子顕微鏡S-4500/EMAX-7000Hitachi
概要・性能
電界放出型走査電子顕微鏡で、高分解能のSEM画像をデジタルで撮影することが出来る。エネルギー分散型X線分析装置 (EDS) を 用いて試料の成分、組成の定性、定量分析 およびSEM画像上での点分析、 線分析、マッピングを行うことができる。YAG形反射電子検出器を用いて免疫電顕像を 観察、撮影することができる。
仕様
•分解能:1.5nm (15kV)、4.0nm (1KV)、倍率20-500,000倍, 1997年製造
•付属機器:PCデジタル画像取りこみ装置、エネルギー分解型X線分析装置(堀場EMAX-7000), YAG型反射電子検出器

利用対象者・利用料金学内
利用の可否※
利用者による測定:1,000円/時間
S-4500
SEM+EDS2,000円/時間
液体窒素210円/リットル
(EDS使用時オプション)
SEM+YAG2,000円/時間