EQUIPMENT

透過電子顕微鏡 JEM-1400Flash
機器情報
カテゴリー | 形態解析 |
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型名 | JEM-1400Flash |
メーカー | JEOL |
概要・性能 | 加速電圧80-120kVの透過電子顕微鏡で、付属のsCMOSカメラにより、スループットが良くノイズの少ない鮮明で高精細な画像を取得できる。また、超広視野モンタージュシステムにより、フィルムに匹敵する広視野・高精細画像の取得が可能。 装置の利用には、操作講習の受講が必要です。 予約は電子顕微鏡室にある予約表で行っています。 |
仕様 | ・分解能 0.2 nm (HC) 0.14 nm(HR) ・加速電圧 10-120 kV ・倍率 ×10~×1,200,000(HC)、 ×10~×1,500,000(HR) |
利用料金
利用対象者・利用料金 | 学内および学外 | |
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利用者による測定 | 基本料金 | 4000円/時間 |
依頼測定 | 基本料金 | 5000円/時間 |
備考 | ※ 学術利用(本学以外の大学又は公的機関)は学内料金の1.5倍、産業利用(公企業・私企業)は学内料金の2倍、ただし、「創薬・医療系オープンイノベーションに資する大学保有機器等の共有に関する協定」(https://www.tmd.ac.jp/rcmd/tokyo/)に申請・承認の場合、学外と学内の差額を東京都が負担するため、学外の方も学内料金にてご利用いただけます。 |

装置担当者連絡先
組織解析ユニット 酒巻 有里子
TEL : 03-5803-5792
MAIL : sakamaki.bioa(at)tmd.ac.jp ←(at)を@に変更してください
設置場所
8号館南3F電子顕微鏡室
