EQUIPMENT
走査電子顕微鏡（タングステン、EDS付）
機器情報
| カテゴリー | 形態解析 |
|---|---|
| 型名 | JSM-IT200LA (EDS付) |
| メーカー | 日本電子 |
| 概要・性能 | ＜卓上型走査型電子顕微鏡。EDS附属。＞ タングステンSEM（W-SEM）の上位機種の機能をよりシンプルに、使いやすくし、初心者に優しい試料交換ナビで、試料セットから視野探し、SEM画像の観察開始まで容易に行うことができます。 EDS装置による、スペクトル収集・点分析、定性分析・定量分析、元素マッピングが可能です。 |
| 仕様 | 分解能 高真空モード 3 nm(30 kV, WD 8mm), 8 nm(3 kV, WD 6mm), 15 nm(1 kV, WD 6mm) 倍率 ×5 ～×300,000（画像サイズ128 mm × 96 mmにて） 加速電圧 0.5 kV ～ 30 kV 照射電流 1pA～0.3μA 画像モード 二次電子像、反射電子像 EDS検出可能元素 Be～U 【利用上の注意点】 ＊ 初めてご利用になられる際は、その旨ご連絡ください。利用方法をご説明いたします。 ＊ 使用後は使用簿に必ず記載してください。 |
利用料金
| 利用対象者・利用料金 | 学内のみ | |
|---|---|---|
| 利用者による測定 | 基本料金 | 2000 円／時間 |
| 備考 | ＊初回では本予約までに時間がかかる場合があります。時間に余裕をもって予約をしてください。 ＊担当者対応：平日9：00～17:00 |
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装置担当者連絡先
中石 典子
TEL :
MAIL : em-info.bioa☆cmn.tmd.ac.jp（☆⇒@に変更）
設置場所
21号館 B1階 006A室（機器分析室1）
