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走査型電子顕微鏡(SEM)

エネルギー分散型X線分析装置を備えた実習用の走査型電子顕微鏡です。
本装置では、高真空の二次電子像から低真空の反射電子像までを手軽に観察することが可能です。

走査型電子顕微鏡(SEM)

EDS分析では、定性分析、定量分析が可能で、PC上で電子顕微鏡と連動して利用できます。
画像モードとして、PC上の画像処理によって、二次電子像、組成像、凹凸像、立体像などを得ることができます。
医用材料だけでなく、生体試料の観察も容易です。

走査型電子顕微鏡(SEM)

走査型顕微鏡を用いた観察は、装置の扱い方よりも、観察対象に適した試料の作り方、前処理の仕方、観察条件の選び方といったノウハウが重要です。
生体材料工学研究所には、多くの分野の研究者が一つの研究所に集まっています。このため、
さまざまな試料を観察する技術を習得できる理想的な環境といえます。

走査型電子顕微鏡(SEM)

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